Sequential Logic Testing and Verification

Kirjailija:

Ghosh Abhijit, Devadas Srinivas, A. Richard Newton

Sidottu, 1991

englanti

Sarja:The Springer International Series in Engineering and Computer Science

207,80 €

Tilaustuote

Voidaan lähettää ti 23.–ma 29. kesäkuuta

Kokonaistoimitusaika lasketaan kassalla

NidottuVoidaan lähettää ti 23.–ma 29. kesäkuuta

193,40 €

For instance, in order design reliable inte gritted circuits, it is necessary to analyze how decisions regarding design rules affect the yield, i.e., the percentage of functional chips obtained by the manufacturing process.

Kirjailija: Ghosh Abhijit, Devadas Srinivas, A. Richard Newton
Painos: 1992
ISBN: 9780792391883
Kieli: englanti
Paino: 518 grammaa
Sarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Julkaisupäivä: 30.11.1991
Kustantaja: Kluwer Academic Publishers
Sivumäärä: 214

Toimitus

Ilmainen toimitus yksityisasiakkaille yli 29 euron tilauksiin. Tarjoamme toimituksen noutopisteeseen, suoraan postilaatikkoosi tai ovelle, pakettiautomaattiin tai kotiinkuljetuksena. Saatavilla olevat toimitusvaihtoehdot näkyvät kassalla. Toimitusaika voi vaihdella toimitustavan, osoitteen ja tilauksesi sisältämien tuotteiden pidempien toimitusaikojen mukaan. Arvioitu kokonaisaika toimitukselle ilmoitetaan kassalla.

Maksaminen

Voit maksaa MobilePaylla, kortilla (Visa tai Mastercard), Apple Paylla tai Klarnalla. Klarnan maksuvaihtoehdot ovat: korttimaksu, verkkopankkimaksu, lasku tai osamaksu. Klikkaamalla "Maksa tilaus" hyväksyt Kustomsin ja Adlibriksen yleiset ehdot. Voit tutustua henkilötietojesi käsittelyyn Adlibriksen tietosuojakäytännössä ja Kustomsin tietosuojainformaatiossa.

Palautukset

Adlibriksella sinulla on aina 28 päivän palautusoikeus siitä hetkestä, kun olet vastaanottanut tuotteesi. Palautusmaksu on 5,90 euroa. Peruuttamisoikeus ei koske tuotteita, jotka toimitetaan sähköisesti ja ovat ladattavissa tilauksen vahvistushetkestä alkaen. Lisätietoja palautuksista, hyvityksistä ja reklamaatioista löydät ostoehdoistamme.