

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
- Tiiviin aineen fysiikka (nestemäisen ja kiinteän tilan fysiikka) (Materiaalit / aineen tilat)
- Materiaalien testaus (Materiaalioppi)
- Kemianteollisuus ja -tekniikka (Kemianteollisuus ja valmistusteknologiat)
- Kristallografia (Kemia)
- Sovellettu fysiikka (Fysiikka)
- Kemiantekniikka (prosessitekniikka, laitetekniikka) (Kemianteollisuus ja -tekniikka)