Siirry suoraan sisältöön
Software Defect and Operational Profile Modeling
Tallenna

Software Defect and Operational Profile Modeling

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
Kirjailija
Kai-Yuan Cai
Painos
Softcover reprint of the original 1st ed. 1998
ISBN
9781461375593
Kieli
englanti
Paino
310 grammaa
Julkaisupäivä
12.10.2012
Sivumäärä
268