Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Englanninkieliset kirjat

Software Defect and Operational Profile Modeling

Kirjailija:
Sidottu, 1998
englanti
257,00 €

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1

Kirjailija
Kai-Yuan Cai
Painos
1998
ISBN
9780792382591
Kieli
englanti
Paino
518 grammaa
Julkaisupäivä
31.8.1998
Sivumäärä
268