Siirry suoraan sisältöön
Introduction to Quantum Metrology
Tallenna

Introduction to Quantum Metrology

This book discusses the theory of quantum effects used in metrology, and presents the author’s research findings in the field of quantum electronics.

Alaotsikko
The Revised SI System and Quantum Standards
Painos
Second Edition 2019
ISBN
9783030196790
Kieli
englanti
Paino
310 grammaa
Julkaisupäivä
14.8.2020
Sivumäärä
326