Siirry suoraan sisältöön
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Tallenna

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Kirjailija
David C Cox
ISBN
9781681747934
Kieli
englanti
Paino
310 grammaa
Julkaisupäivä
1.10.2015
Kustantaja
Morgan Claypool
Sivumäärä
84