Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Tietokirjallisuus
  3. Tiede ja tekniikka

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

84,50 €

ISBN
9780750327954
Kieli
englanti
Paino
163 grammaa
Julkaisupäivä
1.10.2015
Sivumäärä
84