Siirry suoraan sisältöön
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Tallenna

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Kirjailija:
pokkari, 2015
englanti
Kirjailija
David C Cox
ISBN
9780750327954
Kieli
englanti
Paino
163 grammaa
Julkaisupäivä
1.10.2015
Kustantaja
Morgan Claypool
Sivumäärä
84