Atom-Probe Tomography

Kirjailija:

Miller Michael K., Forbes Richard G.

Nidottu

, 2016

englanti

193,40 €

Tilaustuote

Voidaan lähettää pe 26. kesäkuuta–to 2. heinäkuuta

Kokonaistoimitusaika lasketaan kassalla

SidottuVoidaan lähettää pe 26. kesäkuuta–to 2. heinäkuuta

193,40 €

Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy.

Alaotsikko: The Local Electrode Atom Probe
Kirjailija: Miller Michael K., Forbes Richard G.
ISBN: 9781489977908
Kieli: englanti
Paino: 281 grammaa
Julkaisupäivä: 17.9.2016
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 423

Toimitus

Ilmainen toimitus yksityisasiakkaille yli 29 euron tilauksiin. Tarjoamme toimituksen noutopisteeseen, suoraan postilaatikkoosi tai ovelle, pakettiautomaattiin tai kotiinkuljetuksena. Saatavilla olevat toimitusvaihtoehdot näkyvät kassalla. Toimitusaika voi vaihdella toimitustavan, osoitteen ja tilauksesi sisältämien tuotteiden pidempien toimitusaikojen mukaan. Arvioitu kokonaisaika toimitukselle ilmoitetaan kassalla.

DSV

Maksaminen

Voit maksaa MobilePaylla, kortilla (Visa tai Mastercard), Apple Paylla tai Klarnalla. Klarnan maksuvaihtoehdot ovat: korttimaksu, verkkopankkimaksu, lasku tai osamaksu. Klikkaamalla "Maksa tilaus" hyväksyt Kustomsin ja Adlibriksen yleiset ehdot. Voit tutustua henkilötietojesi käsittelyyn Adlibriksen tietosuojakäytännössä ja Kustomsin tietosuojainformaatiossa.

Palautukset

Adlibriksella sinulla on aina 28 päivän palautusoikeus siitä hetkestä, kun olet vastaanottanut tuotteesi. Palautusmaksu on 5,90 euroa. Peruuttamisoikeus ei koske tuotteita, jotka toimitetaan sähköisesti ja ovat ladattavissa tilauksen vahvistushetkestä alkaen. Lisätietoja palautuksista, hyvityksistä ja reklamaatioista löydät ostoehdoistamme.