Siirry suoraan sisältöön
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Tallenna

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

40,90 €
Kirjailija
Sarah Fearn
ISBN
9781681747385
Kieli
englanti
Paino
310 grammaa
Julkaisupäivä
16.10.2015
Kustantaja
Morgan Claypool
Sivumäärä
68