Siirry suoraan sisältöön
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Tallenna

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

Kirjailija:
pokkari, 2015
englanti
58,50 €
Kirjailija
Sarah Fearn
ISBN
9780750328005
Kieli
englanti
Paino
137 grammaa
Julkaisupäivä
16.10.2015
Kustantaja
Morgan Claypool
Sivumäärä
68