
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
- Kirjailija
- Sarah Fearn
- ISBN
- 9780750328005
- Kieli
- englanti
- Paino
- 137 grammaa
- Julkaisupäivä
- 16.10.2015
- Kustantaja
- Morgan Claypool
- Sivumäärä
- 68