Advanced Test Methods for SRAMs
- Alaotsikko
- Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
- Painos
- 2010
- ISBN
- 9781441909374
- Kieli
- englanti
- Paino
- 518 grammaa
- Julkaisupäivä
- 4.11.2009
- Kustantaja
- Springer-Verlag New York Inc.
- Sivumäärä
- 171























