Interfacial Compatibility in Microelectronics
- Undertitel
- Moving Away from the Trial and Error Approach
- Författare
- Laurila Tomi, Vuorinen Vesa, Mervi Paulasto-Kröckel, Turunen Markus, Toni T. Mattila, Kivilahti Jorma
- ISBN
- 9781447160687
- Språk
- engelska
- Vikt
- 281 gram
- Serie
- Microsystems
- Utgivningsdatum
- 2014-02-22
- Förlag
- Springer London
- Sidor
- 218











































