Interfacial Compatibility in Microelectronics
- Undertitel
- Moving Away from the Trial and Error Approach
- Författare
- Laurila Tomi, Vuorinen Vesa, Mervi Paulasto-Kröckel, Turunen Markus, Toni T. Mattila, Kivilahti Jorma
- ISBN
- 9781447124696
- Språk
- engelska
- Vikt
- 518 gram
- Serie
- Microsystems
- Utgivningsdatum
- 2012-01-13
- Förlag
- Springer London
- Sidor
- 218











































