Spara
Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
Författare:
e-bok, 2016
Engelska
Läs i Adobe DRM-kompatibel e-boksläsareDen här e-boken är kopieringsskyddad med Adobe DRM vilket påverkar var du kan läsa den. Läs mer
A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices
- Författare
- Haifei Bao, Jingdong Chen, Liguo Chen, Dachao Li, Chenyang Xue, Zongmin Ma, Tielin Shi, Xiujian Chou, Wendong Zhang
- ISBN
- 9781118717981
- Språk
- Engelska
- Utgivningsdatum
- 2016-10-18
- Förlag
- WILEY
- Tillgängliga elektroniska format
- PDF - Adobe DRM
- Läs e-boken här
- E-boksläsare i mobil/surfplatta
- Läsplatta
- Dator
