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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschätzen, mit der ein Fehler durch ein zufällig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen.
ISBN
9783540180722
Språk
Tysk
Vekt
310 gram
Utgivelsesdato
12.8.1987
Antall sider
133