Spar
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
e-bok, 2012
Engelsk
Les i Adobe DRM-kompatibelt e-bokleserDenne e-boka er kopibeskyttet med Adobe DRM som påvirker hvor du kan lese den. Les mer
An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
- Redaktør
- Evgeni Gusev, Alexander Vul', Eric Garfunkel
- ISBN
- 9789401150088
- Språk
- Engelsk
- Utgivelsesdato
- 6.12.2012
- Forlag
- SPRINGER NETHERLANDS
- Tilgjengelige elektroniske format
- PDF - Adobe DRM
- Les e-boka her
- E-bokleser i mobil/nettbrett
- Lesebrett
- Datamaskin
