

Defects in Microelectronic Materials and Devices
- Redaktør
- Daniel M. Fleetwood, Ronald D. Schrimpf
- ISBN
- 9781420043778
- Språk
- Engelsk
- Utgivelsesdato
- 19.11.2008
- Forlag
- CRC PRESS
- Tilgjengelige elektroniske format
- PDF - Adobe DRM
- Les e-boka her
- E-bokleser i mobil/nettbrett
- Lesebrett
- Datamaskin
