Gå direkte til innholdet
Defect Detection via THz Imaging
Spar

Defect Detection via THz Imaging

Forfatter:
pocket, 2008
Engelsk
Undertittel
Potentials and Limitations
ISBN
9783639103694
Språk
Engelsk
Vekt
127 gram
Utgivelsesdato
6.11.2008
Antall sider
88