???????? ?????????? ???? ? ?????????????

Мы предлагаем новый масштабируемый подход для снижения ЧР во время скоростного тестирования последовательных схем со сканирующим LBIST с использованием схемы "запуск на захват". Это достигается за счет снижения коэффициента активности CUT путем соответствующей модификации тестовых векторов, генерируемых LBIST последовательных ИС. Генерирование значительного падения мощности (PD) во время тестирования на скорости, выполняемого Logic Built-In Self Test (LBIST), является серьезной проблемой для современных ИС.