Siirry suoraan sisältöön
VLSI Design and Test
VLSI Design and Test
Tallenna

VLSI Design and Test

Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.
Alaotsikko
17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
ISBN
9783642420245
Kieli
englanti
Julkaisupäivä
13.12.2013
Formaatti
  • PDF - Adobe DRM
Lue e-kirjoja täällä
  • Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
  • Lukulaite
  • Tietokone