Tallenna
VLSI Design and Test
e-kirja, 2022
englanti
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.
- Alaotsikko
- 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers
- Toimittaja
- Jaynarayan Tudu, Anand Darji, Sudeb Dasgupta, Ambika Prasad Shah
- ISBN
- 9783031215148
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 16.12.2022
- Kustantaja
- Springer Nature Switzerland
- Formaatti
- Epub - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
