Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Tietokirjallisuus
  3. Tiede ja tekniikka

Study of Atomic Layer Deposited HfO2/Si Interfaces

70,00 €

Kirjailija
Savita Maurya
ISBN
9786139909506
Kieli
englanti
Paino
250 grammaa
Julkaisupäivä
1.8.2019
Sivumäärä
156