
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
- Alaotsikko
- Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
- Toimittaja
- Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick de Ridder
- Painos
- 2006 ed.
- ISBN
- 9783540372363
- Kieli
- englanti
- Paino
- 310 grammaa
- Julkaisupäivä
- 3.8.2006
- Sivumäärä
- 939