Siirry suoraan sisältöön
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Tallenna

Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy

Kirjailija:
pokkari, 2012
englanti
Kirjailija
Stanley J Ness
ISBN
9781286862377
Kieli
englanti
Paino
177 grammaa
Julkaisupäivä
26.10.2012
Kustantaja
Biblioscholar
Sivumäärä
120