Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Tietokirjallisuus
  3. Tiede ja tekniikka

Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing

56,20 €

ISBN
9783659255205
Kieli
englanti
Paino
191 grammaa
Julkaisupäivä
25.9.2012
Sivumäärä
116

Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing - Subhadip Kundu, Santanu Chattopadhyay - Nidottu (9783659255205) | Adlibris kirjakauppa