
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
- Kirjailija
- Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu
- Painos
- 2012 ed.
- ISBN
- 9781489987877
- Kieli
- englanti
- Paino
- 310 grammaa
- Julkaisupäivä
- 13.4.2014
- Kustantaja
- Springer-Verlag New York Inc.
- Sivumäärä
- 306