Tallenna
Size Effects in Thin Films
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
A complete and comprehensive study of transport phenomena in thin continuous metal films, this book reviews work carried out on external-surface and grain-boundary electron scattering and proposes new theoretical equations for transport properties of these films. It presents a complete theoretical view of the field, and considers imperfection and impurity effects.
- Kirjailija
- A.J. Tosser, C.R. Tellier
- Toimittaja
- G. Siddall
- ISBN
- 9781483289762
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 20.4.2016
- Kustantaja
- ELSEVIER SCIENCE
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
