Tallenna
Secondary Ion Mass Spectrometry
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique.
- Alaotsikko
- Applications for Depth Profiling and Surface Characterization
- Kirjailija
- Fred Stevie
- ISBN
- 9781606505892
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 15.9.2015
- Kustantaja
- Momentum Press
- Formaatti
- Epub - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
