
Scanning Ion Conductance Microscopy
This book provides a selection of recent developments in scanning ion conductance microscopy (SICM) technology and applications.
- Toimittaja
- Tilman E. Schäffer
- Painos
- 1st ed. 2022
- ISBN
- 9783031144455
- Kieli
- englanti
- Paino
- 310 grammaa
- Julkaisupäivä
- 2.10.2023
- Kustantaja
- Springer International Publishing AG
- Sivumäärä
- 230