Siirry suoraan sisältöön
Scanning Ion Conductance Microscopy
Tallenna

Scanning Ion Conductance Microscopy

This book provides a selection of recent developments in scanning ion conductance microscopy (SICM) technology and applications.

Painos
1st ed. 2022
ISBN
9783031144455
Kieli
englanti
Paino
310 grammaa
Julkaisupäivä
2.10.2023
Sivumäärä
230