Reliability, Yield, and Stress Burn-In
- Alaotsikko
- A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
- Kirjailija
- Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim
- ISBN
- 9781461375968
- Kieli
- englanti
- Paino
- 281 grammaa
- Julkaisupäivä
- 14.3.2014
- Kustantaja
- Springer-Verlag New York Inc.
- Sivumäärä
- 394
