Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Tietokirjallisuus
  3. Tiede ja tekniikka

Reliability, Yield, and Stress Burn-In

205,70 €

A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

Alaotsikko
A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
ISBN
9781461375968
Kieli
englanti
Paino
281 grammaa
Julkaisupäivä
14.3.2014
Sivumäärä
394