Siirry suoraan sisältöön
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Tallenna

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
ISBN
9789400776623
Kieli
englanti
Paino
446 grammaa
Julkaisupäivä
29.10.2013
Kustantaja
Springer
Sivumäärä
187