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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Tallenna

Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschätzen, mit der ein Fehler durch ein zufällig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen.
ISBN
9783540180722
Kieli
saksa
Paino
310 grammaa
Julkaisupäivä
12.8.1987
Sivumäärä
133