Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Tietokirjallisuus
  3. Tiede ja tekniikka

Power- And Thermal-Aware Testing of System-on-Chip

63,60 €

Kirjailija
Rajit Karmakar
ISBN
9783330017177
Kieli
englanti
Paino
238 grammaa
Julkaisupäivä
16.3.2017
Sivumäärä
148