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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
- Alaotsikko
- Simulation mit PSPICE
- Kirjailija
- Peter Baumann
- ISBN
- 9783834824950
- Kieli
- saksa
- Julkaisupäivä
- 28.9.2012
- Kustantaja
- Springer Fachmedien Wiesbaden
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
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