Siirry suoraan sisältöön
Optical Characterization of Microstructures and Optoelectronic Devices Based on Wide Band Gap Semiconductors
Tallenna

Optical Characterization of Microstructures and Optoelectronic Devices Based on Wide Band Gap Semiconductors

sidottu, 2026
englanti
Toimittaja
Shijie Xu
ISBN
9789819519279
Kieli
englanti
Paino
815 grammaa
Julkaisupäivä
27.1.2026
Kustantaja
Springer
Sivumäärä
388