Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Englanninkieliset kirjat

Neutron and X-ray Reflectometry

Sidottu, 2022
englanti
157,20 €

This book introduces the techniques of neutronand x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using thetechniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.

Alaotsikko
Emerging phenomena at heterostructure interfaces
ISBN
9780750346931
Kieli
englanti
Paino
518 grammaa
Julkaisupäivä
27.12.2022
Sivumäärä
182