
Nanometer Variation-Tolerant SRAM
- Alaotsikko
- Circuits and Statistical Design for Yield
- Kirjailija
- Mohamed Abu Rahma, Mohab Anis
- Painos
- 2013 ed.
- ISBN
- 9781493902200
- Kieli
- englanti
- Paino
- 310 grammaa
- Julkaisupäivä
- 15.10.2014
- Kustantaja
- Springer-Verlag New York Inc.
- Sivumäärä
- 172