Tallenna
Microscopy of Semiconducting Materials
e-kirja, 2000
englanti
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
With IC technology continuing to advance, the analysis of very small structures remains critically important. Microscopy of Semiconducting Materials provides an overview of advances in semiconductor studies using microscopy. The book explores the use of transmission and scanning electron microscopy, ultrafine electron probes, and EELS to investigat
- Alaotsikko
- 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
- Toimittaja
- A.G Cullis, R Beanland
- ISBN
- 9781040076781
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 1.1.2000
- Kustantaja
- CRC PRESS
- Formaatti
- Epub - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
