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Méthodes de spectroscopie de modulation dans la recherche sur les matériaux photovoltaïques
Tallenna

Méthodes de spectroscopie de modulation dans la recherche sur les matériaux photovoltaïques

Kirjailija:
pokkari, 2026
Ranska
Cet ouvrage se concentre sur l'application de la spectroscopie de photor flectance et d' lectror flectance d pendante de la temp rature afin d' tudier des mat riaux nouveaux et potentiels dans la conversion de l' nergie solaire. La photor flectance et l' lectror flectance font partie des techniques de spectroscopie de modulation, dans lesquelles, pendant les mesures de r flectance, la modulation externe est appliqu e par rapport un param tre du syst me. Dans le cadre des techniques utilis es dans ce travail, le param tre modul p riodiquement tait le champ lectrique interne/de surface int gr . Les variations du champ lectrique entra nent des variations de la fonction di lectrique complexe, qui est directement li e la capacit de r flectance du mat riau. Les spectres de r flectance modul e enregistr s avaient la nature d'une d riv e troisi me pr s des transitions interbandes. Ces m thodes nous ont permis d'estimer l' nergie de bande interdite des mat riaux tudi s avec une pr cision relativement lev e, et en outre d' valuer la qualit des cristaux. Le principal avantage des spectroscopies de photor fl chance et d' lectror flectance par rapport aux autres techniques de caract risation optique est qu'elles sont non destructives, simples, applicables temp rature ambiante et tr s pr cises.
Kirjailija
Taavi Raadik
ISBN
9786209572616
Kieli
Ranska
Paino
109 grammaa
Julkaisupäivä
4.2.2026
Sivumäärä
72