Méthodes cristallographiques pour la détermination des structures

Ce livre complet propose une exploration approfondie des m thodologies essentielles de la diffraction des rayons X sur un seul cristal (SCXRD) et de la cristallographie structurale. En commen ant par les principes de la collecte des donn es et de l'indexation de la r flexion, le livre guide les lecteurs travers les subtilit s du traitement des donn es, de l' valuation de la qualit et de la d termination de la sym trie. L'accent est mis sur les meilleures pratiques pour appliquer l'analyse des groupes d'espace, affiner les mod les atomiques et assurer la fiabilit des r sultats structuraux.Con u pour servir la fois d'outil d'enseignement et d'ouvrage de r f rence, ce volume s'adresse aux tudiants de troisi me cycle, aux chercheurs et aux professionnels de la cristallographie, de la science des mat riaux et des sciences mol culaires.