Melhorar a resistência da memória não volátil em sistemas incorporados

Este livro centra-se no aumento da resist ncia da mem ria de acesso aleat rio n o vol til (NVRAM) para aplica es de sistemas incorporados. Descreve a metodologia que combina algoritmos de aprendizagem autom tica optimizados com base na previs o da carga de trabalho e t cnicas de compress o de dados para prolongar o tempo de vida da NVRAM. A estrutura utiliza um modelo de Compress o de Padr o Din mico baseado em Instru o por Ciclo para analisar e comprimir cargas de trabalho, bem como um modelo de Aprendizagem Adaptativa de Energia H brida de Carga de Trabalho para categorizar e comprimir ainda mais os dados para armazenamento. O livro fornece uma solu o para melhorar a resist ncia da NVRAM, que crucial para o desempenho de dispositivos incorporados, abordando a previs o da carga de trabalho e a compress o eficiente.