Tallenna
Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
Kirjailija:
e-kirja, 2016
englanti
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices
- Kirjailija
- Chenyang Xue, Dachao Li, Liguo Chen, Jingdong Chen, Haifei Bao, Zongmin Ma, Tielin Shi, Xiujian Chou, Wendong Zhang
- ISBN
- 9781118717981
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 18.10.2016
- Kustantaja
- WILEY
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
