Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Englanninkieliset kirjat

Machine Learning Approaches for Software Defect Prediction

68,90 €

Kirjailija
Shaheen Layaq
ISBN
9786208012199
Kieli
englanti
Paino
203 grammaa
Julkaisupäivä
5.5.2025
Sivumäärä
124