
Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
- Kirjailija
- Thomas E Gray
- ISBN
- 9781288308347
- Kieli
- englanti
- Paino
- 186 grammaa
- Julkaisupäivä
- 16.11.2012
- Kustantaja
- Biblioscholar
- Sivumäärä
- 126