Siirry suoraan sisältöön
Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
Tallenna

Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence

Kirjailija:
pokkari, 2012
englanti
Kirjailija
Thomas E Gray
ISBN
9781288308347
Kieli
englanti
Paino
186 grammaa
Julkaisupäivä
16.11.2012
Kustantaja
Biblioscholar
Sivumäärä
126