Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.
- Alaotsikko
- Phonons, Plasmons, and Polaritons
- Kirjailija
- Mathias Schubert
- Painos
- 2004 ed.
- ISBN
- 9783540232490
- Kieli
- englanti
- Paino
- 446 grammaa
- Julkaisupäivä
- 26.11.2004
- Sivumäärä
- 196