Siirry suoraan sisältöön
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
Tallenna

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

Alaotsikko
Phonons, Plasmons, and Polaritons
Painos
2004 ed.
ISBN
9783540232490
Kieli
englanti
Paino
446 grammaa
Julkaisupäivä
26.11.2004
Sivumäärä
196