

Infrared Characterization For Microelectronics
- Kirjailija
- Lau Wai Shing Lau
- ISBN
- 9789814500074
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 1.10.1999
- Kustantaja
- World Scientific Publishing Company
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone