
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
- Kirjailija
- Debashis Bhattacharya, John P. Hayes
- Painos
- Softcover reprint of the original 1st ed. 1990
- ISBN
- 9781461288190
- Kieli
- englanti
- Paino
- 310 grammaa
- Julkaisupäivä
- 26.9.2011
- Kustantaja
- Springer-Verlag New York Inc.
- Sivumäärä
- 160