Tallenna
Handbook of Silicon Semiconductor Metrology
e-kirja, 2001
englanti
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
Containing more than 300 equations and nearly 500 drawings, photographs, and micrographs,this reference surveys key areas such as optical measurements and in-line calibration methods. It describes cleanroom-based measurement technology used during the manufacture of silicon integrated circuits and covers model-based, critical dimension, overlay
- Toimittaja
- Alain C. Diebold
- ISBN
- 9780203904541
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 29.6.2001
- Kustantaja
- CRC PRESS
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
