
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures.
- Kirjailija
- Terry L. Alford, L.C. Feldman, James W. Mayer
- Painos
- 2007 ed.
- ISBN
- 9780387292601
- Kieli
- englanti
- Paino
- 446 grammaa
- Julkaisupäivä
- 16.2.2007
- Kustantaja
- Springer-Verlag New York Inc.
- Sivumäärä
- 336