Tallenna
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
e-kirja, 2012
englanti
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
- Toimittaja
- Evgeni Gusev, Alexander Vul', Eric Garfunkel
- ISBN
- 9789401150088
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 6.12.2012
- Kustantaja
- SPRINGER NETHERLANDS
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
